18600717106
產品簡介
PIPS Ⅱ 精密離子減薄儀用于高質量透射電鏡樣品的制備，它可精確定位減薄位置并對工藝參數進行精確控制
PIPS Ⅱ 精密離子減薄儀用于高質量透射電鏡樣品的制備，它可精確定位減薄位置并對工藝參數進行準確控制。
PIPS Ⅱ 精密離子減薄儀設備特點：
使用 X、Y 樣品臺來把減薄區域精確定位到離子束交叉點
改進低電壓性能的離子槍，有用電壓低至 100 伏，從而快速安全地對 FIB 制備的TEM樣品進行拋光
利用 DigitalMicrograph 軟件和光學數碼顯微鏡進行圖像存儲和分析
10 英寸彩色觸摸屏可用于顯示和控制所有 PIPS II 參數
公司深耕國內科研市場近十年，以中科院等專業院所背景的技術力量為依托， 為國內各大科研機構及材料研究客戶提供科研儀器設備和專業技術服務。公司以代理國內外材料化工方向的儀器設備為核心業務，產品覆蓋材料制備、表征、光、熱、 電、磁等研究領域。
當前位置：
上一個：
返回列表
電鏡樣品制備
