型號:DektakXTDektakXT探針式輪廓儀采用革命性的臺式設計,可實現4Å(0.4nm)的優異重復性,掃描速度可提高40%
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DimensionFastScan原子力顯微鏡(AFM)系統經過專門設計,在不降低分辨率、不失去力控制、不增加設備復雜性,不帶來繁瑣操作的前提下,即可實現快速掃描
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