產品技術簡介有別于傳統橢偏儀，這是新一代的顯微成像橢偏儀技術，它有機地結合了傳統光譜橢偏儀和光學顯微鏡技術，使得我們能夠在小至1µm的微結構上以橢偏儀的靈敏度表征薄膜厚度和折射率。顯微鏡部分能夠同時測量光學系統全視場范圍內的所有結構。傳統的橢偏儀注重于測量整個光斑，而不能實現高精度的橫向分辨率，并且需要逐點測量。該設備的顯微鏡功能使得我們能夠獲得微觀結構的橢偏增強對比圖像，在相機的實時圖像中可以看到折射率或厚度的微小變化。允許識別橢偏測量的感興趣區域（選區測量），...

多功能高低溫真空探針臺，結構緊湊，體積小，探針移動不受真空內外壓差影響，電-光-氣接口齊全，應用場景不受限。可實現寬溫度范圍、高真空或氣氛控制；同時，高精度線性升降溫程序控制，確保冷熱循環測試方便可靠。本探針臺與各種阻抗分析儀、LCR表、鐵電測試儀、光伏測試儀、半導體參數測試儀、源表等聯用，特別適合介電、鐵電、壓電、半導體、光伏、氣敏等功能材料與器件的溫度和氣氛依賴性測量。多功能高低溫真空探針臺INS-VP-01（配置10kV高壓探針）多功能高低溫真空探針臺INS-VP-02...

等離子體增強原子層沉積（ALD）是一種用于納米技術和半導體制造的薄膜沉積技術。等離子ALD是標準ALD技術的一種變體，它利用等離子體來增強沉積過程。等離子體增強原子層沉積(ALD)讓您在材料選擇以及使用等離子工藝在沉積前預處理（或清潔）表面方面擁有更大的自由度。了解等離子體增強原子層沉積(ALD)如何助您更輕松地實現目標。01什么是等離子增強原子層沉積ALD?與傳統的熱驅動ALD方法相比，使用等離子體物質作為反應物可以在處理條件上提供更大的自由度，并且可以適應更廣泛的材料特性...

在材料科學、化學分析和制藥工程等領域，行星球磨儀是一種重要的實驗設備。它以其高效的研磨能力和特別的行星運動模式，在納米材料制備、合金粉碎以及礦物樣品處理等方面展現出較好性能。為了更好地利用這一工具，深入理解其運行原理顯得尤為重要。行星球磨儀的核心在于其模擬了太陽系中行星圍繞恒星旋轉的方式。具體來說，行星球磨儀包含一個主軸驅動的公轉盤(也稱為行星盤)，在其上安裝有多個球磨罐。當設備啟動時，行星盤繞著中心軸做公轉運動，同時每個球磨罐又繞自身的軸線進行自轉。這種復合運動產生了強大的...

熱蒸發鍍碳儀在材料鍍膜等領域有著廣泛應用，但操作過程中涉及高溫、有害氣體等潛在危險，因此必須嚴格遵循相關安全規范和注意事項。一、安全規范??1.設備檢查??在每次使用前，應對熱蒸發鍍碳儀進行全面檢查。查看儀器各部件連接是否牢固，電源線有無破損，真空系統、加熱系統等是否正常運行。任何異常情況都應在使用前解決，確保設備處于最佳狀態。??2.個人防護??操作人員必須全程佩戴專業防護裝備。包括防護眼鏡，防止鍍碳過程中產生的碳顆粒飛濺傷害眼睛；防護面罩，提供更全面的面部防護；耐高溫手套...

精密阻抗分析儀在電子領域的研究、生產和檢測中發揮著重要作用。為了保證其穩定運行和測量精度，日常維護至關重要。首先，保持環境的適宜性。精密阻抗分析儀對環境濕度、溫度和潔凈度都有嚴格要求。應將其放置在干燥、通風良好且溫度穩定的環境中，避免潮濕和高溫對設備造成損害，一般建議相對濕度控制在40%-60%，溫度保持在20-25℃。同時，要防止灰塵、油污等污染物進入儀器內部，可定期使用干凈的空氣吹或防塵罩進行防護。其次，定期清潔儀器。儀器表面和內部都可能積累污垢，影響散熱和測量精度。對于...

LCR表(又稱LCR測量儀)是一種專門用于測量電感(L)、電容(C)和電阻(R)值的電子測試儀器，廣泛應用于電子元器件的測試和檢測。了解LCR表的基本原理、功能和使用方法對于電子工程師和技術人員非常重要。以下是LCR表的知識要點，一看便知。1.基本功能其主要功能是測量電感、電容和電阻的數值。這些物理量是電子元器件的基本電學參數，其通過精確測量這些值，幫助判斷元器件的質量與性能。具體功能包括：電感(L)測量：其可以測量電感器件的電感值，通常單位為亨利(H)。電容(C)測量：用于...

增材制造(additivemanufacture，AM)又稱“3D打印”，是基于離散-堆積原理，采用與減材制造技術相反的加工方式(逐層累加)，最終得到立體實物的過程。具有近凈成形、加工成本低、加工周期短、設計自由度大、節約原材料、節省時間等優點。目前，增材制造成形材料包含了金屬、非金屬、復合材料、生物材料等，成形工藝能量源包括激光、電子束、特殊波長光源、電弧以及以上能量源的組合，成形尺寸從微納米元器件到10m以上大型航空結構件，在航空航天、國防、工業、醫療、汽車、電子等領域得...